以前所未有的速度实现测试质量和成本目标 -- Synopsys测试自动化工具

SNUG 2017 2017 74 页

以前所未有的速度实现测试质量和成本目标

作者: Mark Lin, 资深应用顾问, Synopsys, September 7, 2017


Synopsys测试与良率解决方案

加速更高质量、可靠性和良率: - STAR Memory System: 存储器诊断与修复 - TetraMAX: 诊断 - STAR Hierarchical System: 层次化测试集成 - SpyGlass: RTL测试分析 - DFTMAX: 扫描压缩 - Z01X: 制造测试

关键能力

- 前所未有的测试向量生成速度 - 更高的测试质量覆盖率 - 更低的测试成本 - 集成的层次化测试解决方案


图片索引

本文共446张图片(大型PPT演示文稿),存放于 _images/ 目录。